Phosphogypsum surface characterisation using Scanning Electron Microscopy

Abstract

This paper presents the results of application of Scanning Electron Microscopy (SEM) to examinations of the samples of natural gypsum and phosphogypsum. Phosphogypsum has a well developed crystalline structure, and appear in two polymorphous forms, of rombic and hexagonal shape crystals. Natural gypsum has a poorly crystalline structure. The differences in crystalline structure influence the chemical behavior of these row materials.

Elementarni sastav materije, bilo da je nepoznat ili da je potrebno proveriti sastav novog ili poznatog materijala koji će se koristiti u daljem radu, predstavlja čest zahtev u savremenoj analitičkoj praksi. Nekada se ovim zahtevima pridružuje i potreba da se utvrdi morfologija ili struktura površinske hrapavosti uzorka, njegova homogenost ili prisustvo defekata u strukturi. Elektronske mikroskopske i spektroskopske tehnike čiji je nagli razvoj, sve do komercijalnih sistema, od sedamdesetih godina do sada, omogućen pre svega dostignućima u elektronskim i kompjuterskim tehnologijama, postale su snažno oruđe za ostvarivanje pomenutih zahteva. U radu su prikazani rezultati primene skenirajuće elektronske mikroskopije (SEM) na ispitivanja površine uzoraka prirodnog gipsa i fosfogipsa, radi karakterizacije sastava i definisanja morfološkog sastava. SEM snimci prirodnog gipsa i otpadnog fosfogipsa ukazali su da ova dva gipsa, iako imaju iste hemijske (molekulske) formule – CaSO42H2O, imaju različitu strukturu: prirodni gips ima slabije izraženu kristalnu strukturu a otpadni fosfogips ima izrazitu kristalnu strukturu, pretežno rombičnog i heksagonalnog oblika, što ukazuje na njegov složeniji sastav od prirodnog a što je u skladu sa literaturnim podacima.